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製 品 X線顕微鏡
メーカー 堀場製作所
型 番 XGT-1000WR 年 式 2004年09月
価 格 お問合せ 参 考 10,500,000
仕 様 測定原理   エネルギ−分散型蛍光X纖分析法
測定元素   Si〜U
検出限界   Cd.Pb。Hg.Br数学2ppm.Cr数学5ppm.
大きさ    610×750×500 分析部
重量     200kg  分析部
電源     AC100,120V,220V,240V 分析部





  本体
  直径1.2mm×軸ガイドチュ-ブ仕様(プロ−ブ1本仕様)







備 考
 
ジャンル [09.蛍光X線分析装置] 該当:25件
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簡易型ビ-ド&フェ-ズサンプラ-(高周波溶融装置

X線分析顕微鏡

X線顕微鏡

X線顕微鏡

X線分析顕微鏡

X線分析装置(有害元素)

X線顕微鏡

X線分析装置

蛍光X線分析装置

蛍光X線分析装置

 管理番号 020977 DK0008 DK0009 DK0010 DK0033 DK0034 DK0035 DK0037 KX0038 KX0138
 製 品 名 簡易型ビ-ド&フェ-ズサンプラ-(高周波溶融装置 X線分析顕微鏡 X線顕微鏡 X線顕微鏡 X線分析顕微鏡 X線分析装置(有害元素) X線顕微鏡 X線分析装置 蛍光X線分析装置 蛍光X線分析装置
 型    番 TK-4200 XGT-5100WRSL XGT-1000WR XGT-1000WR XGT-5200WR XGT-5000WR XGT-1000WR WGT-5000WR XRF-1800 XGT-5000WR(TypeTC)
 メーカー 東京科学 堀場製作所 堀場製作所 堀場製作所 堀場製作所 堀場製作所 堀場製作所 堀場製作所 島津製作所 堀場製作所
価  格 お問合せ お問合せ お問合せ お問合せ お問合せ お問合せ お問合せ お問合せ お問合せ お問合せ
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全自動蛍光X線分析装置

粉砕機

エネルギ-分散型微小部蛍光X線分析装置

蛍光膜厚測定器

エレメントアナライザ-

X線分析装置

蛍光X線膜厚計

発光分析装置(アルミ分析用)

蛍光X線膜厚計

発光分析装置

 管理番号 KX0140 KX0164 KX0165 KX0171 KX0172 KX0174 KX0175 KX0176 KX0179 KX0191
 製 品 名 全自動蛍光X線分析装置 粉砕機 エネルギ-分散型微小部蛍光X線分析装置 蛍光膜厚測定器 エレメントアナライザ- X線分析装置 蛍光X線膜厚計 発光分析装置(アルミ分析用) 蛍光X線膜厚計 発光分析装置
 型    番 ZSX-100e TI-100 μEDX-1200 XDL-B-XymZ JSX-3400RU XAN-FD XDLM-C4-PCB PDA-7000 STF-9200 PDA-7000(アルミ合金用)
 メーカー リガク リガク(CMT) 島津製作所 フィッシャ-・インスルメント 日本電子 フィシャ-インスルメント フィッシャ-・インスルメント 島津製作所 Sii 島津製作所
価  格 お問合せ お問合せ お問合せ お問合せ お問合せ お問合せ お問合せ お問合せ お問合せ お問合せ
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スパ-ク放電発光分析装置

蛍光X線分析装置

蛍光X線膜厚計

頭部白金付きトング

蛍光X線膜厚測定器

 
 管理番号 KX0197 KX0199 SA0071 ZZ0048 ZZ0169
 製 品 名 スパ-ク放電発光分析装置 蛍光X線分析装置 蛍光X線膜厚計 頭部白金付きトング 蛍光X線膜厚測定器
 型    番 QS-1000 ZSXPrimusVplus X-STRATA960A 210mm XDLM-C4 PCB
 メーカー OBLF リガク オックスフォ-ドインスルメント --- フィシャ-スコ-プ
価  格 お問合せ お問合せ お問合せ 0 お問合せ
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